低濕度恒溫恒濕箱低溫低濕箱 10濕度試驗(yàn)箱模擬試品在溫濕度變化環(huán)境條件下加載模擬振動(dòng)的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等。

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廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2025-09-17
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產(chǎn)品詳情

低濕度恒溫恒濕箱低溫低濕箱 10濕度試驗(yàn)箱性能

3.1 工作室尺寸	W500×D500×H600mm ，100--5000L可選
3.2外形尺寸	約1020mm×1280mm×1620mm(深×寬×高)
3.3 材質(zhì)	內(nèi)箱采用優(yōu)質(zhì)SUS304不銹鋼，外箱為優(yōu)質(zhì)冷軋板噴塑定制
3.4溫度范圍	0℃～+120℃
3.5溫度波動(dòng)度	≤±0.5℃
3.6溫度均勻度	≤±2℃
3.7溫度偏差	≤±2℃
3.8濕度范圍	10%～95%RH，@25℃
3.9濕度偏差	≤±3%RH
3.10濕度波動(dòng)度	≤±2%RH
3.11輔助裝置	風(fēng)干除霜系統(tǒng)
3.12滿足標(biāo)準(zhǔn)	GB10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件； GB10592-2008高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件； GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法； GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法； GB/T 2423.3-2006電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)方法；以上標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范僅如果被新標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范替代，執(zhí)行新的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范，雙方另有約定的按照約定執(zhí)行。

低濕度恒溫恒濕箱低溫低濕箱 10濕度試驗(yàn)箱簡(jiǎn)介

本產(chǎn)品是模擬GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件、GB/T10589-2008低溫試驗(yàn)箱等技術(shù)條件；GB/T11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件制造，主要為航天、航空、石油、化工、軍事、汽車（摩托車）、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，模擬試品在溫濕度變化環(huán)境條件下加載模擬振動(dòng)的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等。

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低濕度恒溫恒濕箱 低溫低濕箱 10濕度試驗(yàn)箱模擬試品在溫濕度變化環(huán)境條件下加載模擬振動(dòng)的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等。

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